- 発売日:2026/02/13
- 出版社:学術図書出版社
- ISBN:9784780614527
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物理学実験 第2版
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商品説明
室蘭工業大学の物理学実験のテキスト。
目次
第I部 総論
物理実験の心得/測定値と誤差およびその取り扱い方/基本的な測定機器
第II部 各論
基礎的測定/超伝導体の電気抵抗測定/光交流法によるNiの比熱/エックス線の反射と干渉/ボルダの振り子による重力加速度/固体の線膨張率/プリズム分光計/熱の仕事当量/トランジスタの増幅特性/半導体の電気抵抗の温度依存特性/光電効果/オシロスコープで見る電気信号/地磁気の水平成分/Ewingの装置によるヤング率/顕微鏡による屈折率/熱電対/放射線の吸収/等電位線/比電荷/弦の振動
付録 国際単位系(SI)と主な物理定数
物理実験の心得/測定値と誤差およびその取り扱い方/基本的な測定機器
第II部 各論
基礎的測定/超伝導体の電気抵抗測定/光交流法によるNiの比熱/エックス線の反射と干渉/ボルダの振り子による重力加速度/固体の線膨張率/プリズム分光計/熱の仕事当量/トランジスタの増幅特性/半導体の電気抵抗の温度依存特性/光電効果/オシロスコープで見る電気信号/地磁気の水平成分/Ewingの装置によるヤング率/顕微鏡による屈折率/熱電対/放射線の吸収/等電位線/比電荷/弦の振動
付録 国際単位系(SI)と主な物理定数
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