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発売日:2026/03/09
出版社:
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ISBN:9784867981528
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先端半導体製造プロセスの最新動向と微細化技術 オンデマンド版 (
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先端半導体製造プロセスの最新動向と微細化技術 オンデマンド版
先端半導体製造プロセスの最新動向と微細化技術 オンデマンド版
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商品説明
-成膜技術、リソグラフィ、エッチング、CMP、洗浄-★ムーアの法則の限界が叫ばれる中、微細化技術の開発はどこまで続くのか!? 新構造、新材料の適用が進む、先端半導体製造「前工程」の最新技術を網羅した一冊
商品説明
-成膜技術、リソグラフィ、エッチング、CMP、洗浄-
★ムーアの法則の限界が叫ばれる中、微細化技術の開発はどこまで続くのか!?
新構造、新材料の適用が進む、先端半導体製造「前工程」の最新技術を網羅した一冊
目次
第1章 半導体ウェハの研磨、加工技術とイオン注入第2章 成膜技術の開発動向と高品質薄膜の作製第3章 レジスト材料の開発動向と塗布、除去技術第4章 次世代リソグラフィ技術の開発動向と微細化技術第5章 ドライエッチング技術の開発動向とプロセス制御第6章 ウェットエッチング技術の開発動向第7章 CM...
目次
第1章 半導体ウェハの研磨、加工技術とイオン注入
第2章 成膜技術の開発動向と高品質薄膜の作製
第3章 レジスト材料の開発動向と塗布、除去技術
第4章 次世代リソグラフィ技術の開発動向と微細化技術
第5章 ドライエッチング技術の開発動向とプロセス制御
第6章 ウェットエッチング技術の開発動向
第7章 CMPプロセスの開発動向と分析、評価技術
第8章 半導体の洗浄技術、メカニズムと分析、評価技術
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