X線分析の進歩　23

Ⅰ. 放射光：総説
　　1.フォトン・ファクトリー―放射光の特徴とその利用―
　　　(岩崎 博)

Ⅱ. Ｘ線放射スペクトル：報文
　　2.DV-Xα法によるＸ線分光の理論的研究
　　　(足立裕彦・中松博英・向山 毅)

　　3.ホウ素化合物のBKX線放射スペクトル
　　　(上月秀徳・元山宗之)

　　4.電子線励起によるKβ/Kα強度比の化学的効果
　　　(玉木洋一)

Ⅲ. EXAFSその他：報文
　　5.銅K殻XAENSによる酸化物超伝導体の電子構造の研究
　　　(小杉信博)

　　6.実験室における蛍光検出EXAFS測定法の開発
　　　(田路和幸・宇田川康夫)

　　7.Ｘ線光音響イメージング法による差像解析
　　　(河野慎一・升島 努・豊田太郎・塩飽秀啓・安藤正海・雨宮慶幸・樋上照男・横山 友・
　　　今井日出夫・玉井 元・角山政之・平賀忠久・和田幾江・池田佳代)

Ⅳ. Ｘ線回折：報文
　　8.カリウム型ゼオライトLの結晶構造のカリウム含有量依存性
　　　(平野正義・加藤正直・浅田栄一・堤 和男・白石敦則)

　　9.Ｘ線回折法による表面粗さ測定
　　　(小坂雅夫)

　　10.冷却型CCDセンサーによる粉末Ｘ線回折図形の計測
　　　(加藤正直・岡倉正次・服部敏明・榎本茂正・水島 廣・木村安一)

　　11.イメージングプレートの原理とＸ線分析分野への応用
　　　(森 信文・宮原諄二)

Ⅴ. 蛍光Ｘ線分析：報文
　　12.分子軌道法を用いたS8Kβ蛍光Ｘ線スペクトルの計算
　　　(河合 潤・橋本健朗)

　　13-1.蛍光Ｘ線分析法におけるガラスビードの強熱減量(LOI)，強熱増量(GOI)，希釈率補正
　　　　　―その1
　　　(片岡由行・庄司静子・河野久征)

　　13-2.蛍光Ｘ線分析法におけるガラスビードの強熱減量(LOI)，強熱増量(GOI)，希釈率補正
　　　　　―その2
　　　(庄司静子・山田興毅・古澤衛一・河野久征・村田 守)

　　14.蛍光Ｘ線分析法による薄膜および多層薄膜の濃度・膜厚測定
　　　(河野久征・荒木庸一・片岡由行・村田 守)

　　15.初期須恵器の産地測定法
　　　(三辻利一)

　　16.全反射蛍光Ｘ線分析法による微量分析
　　　(宇高 忠・迫 幸雄・小島真次郎・岩本財政・河野 浩・渥美 純)

Ⅵ. Ｘ線光電子分光：報文
　　17.軟Ｘ線マイクロビームの生成と微小領域の光電子分光(μ-XPS)
　　　(二宮 健・長谷川正樹)

　　18.モノクロＸ線光電子分光における帯電制御の方法
　　　(伊藤秋男・松尾 勝)

　　19.制限視野型Ｘ線光電子分光法の微小部分析への応用
　　　(山下孝子・古主泰子・山本 公)

　　20.スモールスポット型Ｘ線光電子分光法におけるピーク形状の改善
　　　(塩沢一成)

Ⅶ. 既掲載Ｘ線粉末回折図形索引

Ⅷ. 1990年Ｘ線分析のあゆみ
　　1.Ｘ線分析関係文献集
　　2.Ｘ線分析関係国内講演会開催状況
　　3.Ｘ線分析研究懇談会講演会開催状況
　　4.Ｘ線分析研究懇談会規約
　　5.｢Ｘ線分析の進歩｣投稿手引き
　　6.(社)日本分析化学会Ｘ線分析研究懇談会1992年度幹事名簿
　　7.｢Ｘ線粉末回折図形集｣の収集に御協力のお願い

Ⅸ. Ｘ線分析関係機器資料
Ⅹ. 既刊総目次
ⅩⅠ. Ｘ線分析の進歩23 索引